モジュール粒度の違いがBug Localization手法に与える影響の研究

Abstract

情報検索に基づく Bug Localization手法は自動でバグの原因箇所を特定するもので、推薦粒度として一般的にファイルレベルを用いる。一方で開発者にとって有用な可能性が高いメソッドレベルでは手法や評価が少なく、知見が不十分である。本研究ではリポジトリ変換を用いて既存のファイルレベル手法をメソッドレベルに修正した。さらにメソッドレベルの大規模評価フレームワークFinerBench4BLを構築し、既存手法を多角的に分析した。その結果、メソッドレベルでは出力ランキングの精度が低下したものの、正解モジュールに到達するまでの総行数を削減でき、デバッグの省力化につながることがわかった。また、ファイルレベルの情報をメソッドレベルの推薦に活用する手法を考案し、既存手法と比較した。

Published as

• Technical Meeting 異粒度情報の統合に基づく細粒度Bug Localization 電子情報通信学会技術研究報告, 2024

BibTeX

@mastersthesis{tsumita-mthesis,
    author = {積田 静夏},
    title = {モジュール粒度の違いがBug Localization手法に与える影響の研究},
    school = {東京工業大学 情報理工学院 情報工学系 情報工学コース},
    year = 2024,
}